- 日期:2025年 5月 27日 - 2025年 5月 30日
- 活动地点: 达拉斯, 德州, 美国
- 活动网站:https://www.ectc.net/
电子元件与技术研讨会(Electronic Components and Technology Conference, ECTC) 是半导体封装领域最具指标性的国际会议之一,由 IEEE 主办,每年吸引来自全球的工程师、研究人员与业界专家齐聚一堂,交流先进封装技术、材料创新与系统整合等最新研究成果。会议包含严格审查的技术论文发表、专题讨论与产业展览,是掌握封装技术趋势的重要平台。
我们很荣幸宣布,Moldex3D 获选于 Electronic Components and Technology Conference (ECTC) 发表技术论文,论文题目为:〈Advanced Packaging Techniques: Hybrid Numerical and Experimental Analysis of Underfill Flow in Fine Pitch Multi-Chip Modules〉,由 Moldex3D Srikar Vallury、沉立轩、周情凯、魏子轩、林韦佑、梁佑恩 与来自 Sanyu Rec Co., Ltd. 的 Kazuki Noguchi 共同完成。该研究结合模拟与实验分析,成功预测多晶片微间距封装中的底部填胶流动行为,展示了 Moldex3D 在先进封装应用中的高精度与可靠性。
在研讨会当天,我们也将发表此篇论文,诚挚邀请对此议题有兴趣的专家与学者,届时莅临参与交流。以下为发表时程:
题目: Advanced Packaging Techniques: Hybrid Numerical and Experimental Analysis of Underfill Flow in Fine Pitch Multi-Chip Modules
- 发表者: Srikar Vallury
- 日期: May 30th
- 时间: 11.55am
- 场地: San Antonio 4-6,
图:10 颗晶片多晶片模组(MCM)封装在不同时间点的模拟结果与实验结果比较
地点
Gaylord Texan Resort & Convention Center